Исследование нелинейного показателя преломления поликристаллического селенида цинка методом однолучевого Z-сканирования

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

Представлена автоматизированная установка для исследования нелинейно-оптических свойств кристаллов методом однолучевого Z-сканирования при длительности импульсов 5.3 нс. Данная схема успешно применена для исследования нелинейного показателя преломления окна из поликристаллического ZnSe. Подробно описана экспериментальная установка, и представлен анализ данных. Измеренное значение нелинейного показателя преломления n2 составило (1.01±0.09) ∙10-11 ед. СГСЭ. Разработанная экспериментальная установка может применяться для исследования нелинейно-оптических характеристик новых нелинейных кристаллов.

Full Text

Restricted Access

About the authors

Е. Ю. Ерушин

Новосибирский государственный университет; Институт лазерной физики Сибирского отделения Российской академии наук

Author for correspondence.
Email: render2012@yandex.ru
Russian Federation, 630090, Новосибирск, ул. Пирогова, 1; 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 15Б

Н. Ю. Костюкова

Новосибирский государственный университет; Институт лазерной физики Сибирского отделения Российской академии наук

Email: n.duhovnikova@gmail.com
Russian Federation, 630090, Новосибирск, ул. Пирогова, 1; 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 15Б

A. А. Бойко

Новосибирский государственный университет; Институт лазерной физики Сибирского отделения Российской академии наук

Email: baa.nsk@gmail.com
Russian Federation, 630090, Новосибирск, ул. Пирогова, 1; 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 15Б

И. Б. Мирошниченко

Институт лазерной физики Сибирского отделения Российской академии наук

Email: render2012@yandex.ru
Russian Federation, 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 15Б

Д. М. Вербоватый

Институт лазерной физики Сибирского отделения Российской академии наук

Email: render2012@yandex.ru
Russian Federation, 630090, Новосибирск, просп. Академика Лаврентьева, 15Б

A. Ю. Кирьякова

Новосибирский государственный университет

Email: render2012@yandex.ru
Russian Federation, 630090, Новосибирск, ул. Пирогова, 1

References

  1. Yao C., Zhang Y., Sun W., Yu C., Li J., and Yuan P. // Opt. Exp. 2013. V. 21 P. 2212. https://doi.org/10.1364/OE.21.002212
  2. He G. S., Zhu J., Baev A., Samoc M., Frattarelli D.L., Watanabe N., Facchetti A., Agren H., Marks T.J., Prasad P. N. // J. Am. Chem. Soc. 2011. V. 133. № 17. P. 6675. https://doi.org/10.1021/ja1113112
  3. Dinu M., Quochi F., Garcia H. // Appl. Phys. Lett. 2003. V. 82 P. 2954. https://doi.org/10.1063/1.1571665
  4. Knight J.C., Skryabin D. V. // Opt. Exp. 2007. V. 15 P. 15365. https://doi.org/10.1364/OE.15.015365
  5. Nabeshima C.T., Alves S.I.P., Neto A.M.F., Silva F.R.O., Samad R.E., Courrol L.C. // Front. Opt. 2016. P. JTh2A.132. https://doi.org/10.1364/FIO.2016.JTh2A.132
  6. Ganeev R.A., Kulagin I.A., Ryasnyansky A.I., Tugushev R.I., Usmanov T. // Opt. Comm. 2004. V. 229 P. 403. http://doi.org/10.1016/j.optcom.2003.10.046
  7. Cotter D., Ironside C.N., Ainslie B.J., Girdlestone H.P. // Opt. Lett. 1989. V. 14. P. 317. https://doi.org/10.1364/OL.14.000317
  8. Friberg S.R., Smith P.W. // IEEE J. Quantum Electron. 1987. V. 23. P. 2089. https://doi.org/10.1109/JQE.1987.1073278
  9. Adair R., Chase L.L., Payne S.A. // J. Opt. Soc. Am. B. 1987. V. 4. P. 875. https://doi.org/10.1364/JOSAB.4.000875
  10. Owyoung A. // IEEE J. Quantum Electron. 1973. V. 9. P. 1064. https://doi.org/10.1109/JQE.1973.1077417
  11. Пиццоферрато Р., Мартелуччи С., Маринелли М., Замит Ю., Скудери Ф., Романьоли М. // КЭ. 1989. Т. 16. С. 2237. https://doi.org/10.1070/QE1989v019n11ABEH009564
  12. Williams W.E., Soileau M.J., Van Stryland E.W. // Opt. Comm. 1984. V. 50. P. 256. https://doi.org/10.1016/0030-4018(84)90328-6
  13. Sheik-bahae M., Said A.A., Van Stryland E.W. // Opt. Lett. 1989. V. 14. P. 955. https://doi.org/10.1364/OL.14.000955
  14. Antony A., Pramodini S., Poornesh P., Kityk I.V., Fedorchuk A.O., Sanjeev G. // Opt. Mater. 2016. V. 62 P. 64. https://doi.org/10.1016/j.optmat.2016.09.053
  15. Chapple P.B., Staromlynska J., Hermann J.A., Mckay T.J., Mcduff R.G. // J. Nonlinear Opt. Phys. Mater. 1997. V. 6. № 3. P. 251 https://doi.org/10.1142/S0218863597000204f
  16. Said A.A., Sheik-Bahae M., Hagan D.J., Wei T.H., Wang J., Young J., Van Stryland E. W. // J. Opt. Soc. Am. B. 1992. V. 9. № 3. P. 405. https://doi.org/10.1364/JOSAB.9.000405
  17. Durand M., Houard A., Lim K., Durécu A., Vasseur O., Richardson M. // Opt. Exp. 2014. V. 22. № 5. P. 5852. https://doi.org/10.1364/OE.22.005852

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download
2. Fig. 1. Image of the Z-scan scheme: FI – Faraday isolator, λ/2 – half-wave plate, Pol – Glan prism, L1 – lens with focal length f = 100 mm.

Download (229KB)
Indexing metadata
3. Fig. 2. Dependence of the beam diameter on the distance from the lens, measured by the Foucault knife method.

Download (119KB)
Indexing metadata
4. Fig. 3. Normalized transmission of the ZnSe test plate, recorded by the Z-scan method with a closed aperture at a laser repetition rate of 1 kHz and a waist intensity of 392 MW/cm2.

Download (184KB)
Indexing metadata

Copyright (c) 2024 Russian Academy of Sciences