Ustoychivost' formirovaniya izobrazheniya s ispol'zovaniem terastrui otnositel'no sdviga puchka
- Authors: Poddubskaya O.G.1, Novitskiy A.V.2, Minin O.V.3,4, Minin I.V.3,4,5
-
Affiliations:
- Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета
- Белорусский государственный университет
- Томский политехнический университет
- Сибирский государственный университет геосистем и технологий
- Новосибирский филиал Института физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, “Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники”
- Issue: Vol 119, No 9-10 (2024)
- Pages: 658-667
- Section: Articles
- URL: https://rjraap.com/0370-274X/article/view/664271
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1234567824090052
- EDN: https://elibrary.ru/KEPNIG
- ID: 664271
Cite item
Abstract
Экспериментально продемонстрирован эффект смещения изображения при асимметричном облучении диэлектрической сферы гауссовым терагерцовым пучком в системах терагерцового имиджинга. На основе численных расчетов, выполненных с использованием операторной теории рассеяния, было показано искривление области локализации электромагнитного поля вблизи теневой поверхности диэлектрической сферы при ее смещении относительно центра перетяжки гауссова пучка, приводящие к формированию так называемого “фотонного крючка”, свойства которого зависят от поляризациии и частоты падающего излучения. Экспериментально продемонстрирована возможность достижения пространственного разрешения уровня 0.38λ в исследуемом диапазоне. Полученные результаты могут использоваться для повышения разрешающей способности коммерческих сканирующих терагерцовых систем.
About the authors
O. G. Poddubskaya
Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета
Email: paddubskaya@gmail.com
Минск, Беларусь
A. V. Novitskiy
Белорусский государственный университетМинск, Беларусь
O. V. Minin
Томский политехнический университет; Сибирский государственный университет геосистем и технологийТомск, Россия; Новосибирск, Россия
I. V. Minin
Томский политехнический университет; Сибирский государственный университет геосистем и технологий; Новосибирский филиал Института физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, “Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники”Томск, Россия; Новосибирск, Россия; Новосибирск, Россия
References
- A. Glagolewa-Arkadiewa, Nature 113, 640 (1924).
- Y. H. Tao, A. J. Fitzgerald, an V. P. Wallace, Sensors 20, 1424 (2020).
- A. Leitenstorfer, A. S. Moskalenko, T. Kampfrath et al. (Collaboration), J. Phys. D: Appl. Phys. 56, 223001 (2023).
- Y. Huang, Y. Shen, and J. Wang, Engineering 22, 106 (2023).
- K. Yamada, Y. Samura, O. V. Minin, A. Kanno, N. Sekine, J. Nakajima, I. V. Minin, and S. Hisatake, Frontiers in Communications and Networks 2, 2673 (2021).
- Н. В. Черномырдин, А.О. Щадько, С. П. Лебедев, И. Е. Спектор, В. Л. Толстогузов, А. С. Кучерявенко, К. М. Малахов, Г. А. Командин, В. С. Горелик, К. И. Зайцев, Оптика и спектроскопия 124, 420 (2018).
- T. R. Globus, D. L. Woolard, T. Khromova, T. W. Crowe, M. Bykhovskaia, B. L. Gelmont, J. Hesler, ad A. C. Samuels, Journal of Biological Physics 29, 89 (2003).
- Y. Huang, X. Yang, and J. Li, J. Appl. Polym. Sci. 140, e54737 (2023).
- P. Kuzel and H. Nemec, Adv. Opt. Mater. 8, 1900623 (2020).
- O. В. Минин, И. В. Минин, Квантовая электроника 52, 13 (2022).
- N. Chopra and J. Lloyd-Hughes, J. Infrared Millim. Terahertz Waves 44, 981 (2023).
- C. Bruckner, G. Notni, and A. Tunnermann, Optik 121, 113 (2010).
- Y. H. Lo and R. Leonhardt, Opt. Express 16, 15991 (2008).
- A. Pimenov and A. Loidl, Appl. Phys. Lett. 83, 4122 (2003).
- D.-H. Choi, J.-H. Shin, I.-M. Lee, and K. H. Park, Sensors 21, 1424 (2021).
- D.-H. Choi, M. Kim, D.W. Park, E. S. Lee, and I.-M. Lee, Optics & Laser Technology 174, 110557 (2024).
- H. H. Nguyen Pham, S. Hisatake, O. V. Minin, T. Nagatsuma, and I. V. Minin, APL Photonics 2, 056106 (2017).
- V. Pacheco-Pena, M. Beruete, I. V. Minin, and ˜ O. V. Minin, Appl. Phys. Lett. 105, 084102 (2014).
- A. Mandal and V. R. Dantham, J. Opt. Soc. Am.B 37, 977 (2020).
- A. Heifetz, S.-C. Kong, A. V. Sahakian, A. Taflove, and V. Backman, Journal of Computational and Theoretical Nanoscience 6, 1979 (2009).
- A. Mandal, P. Tiwari, P. K. Upputuri, and V. R. Dantham, Sci. Rep. 12, 173 (2022).
- L. Yue, Z. Wang, B. Yan, J. N. Monks, Y. Joya, R. Dhama, O. V. Minin, and I. V. Minin, Annalen der Physik 532, 2000373 (2020).
- A. L. S. Cruz, C. M. B. Cordeiro, and M. A. R. Franco, Proc. SPIE 9634, 963412 (2015).
- A. G. Paddubskaya, N. I. Valynets, A. V. Novitsky, I. V. Minin, and O. V. Minin, J. Phys. D: Appl. Phys. 57,145104 (2024).
- S. Hunsche, M. Koch, I. Brener, and M. C. Nuss, Opt. Commun. 150, 22 (1998).
- R. Chen, J. Lin, P. Jin, M. Cada, and Y. Ma, Photonic nanojets generated by rough surface micro-cylinders, in 2015 IEEE 28th Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE), Halifax, NS, Canada (2015), p. 1393; doi: 10.1109/CCECE.2015.7129483.
- M. Kerker, The scattering of light and other electromagnetic radiation, John Wiley and Sons Inc, N.Y. (1969), 688 p.
- A. Orych, The International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences XL-1/W4, 391 (2015).
- R. I. Stantchev, B. Sun, S.M. Hornett, P. A. Hobson, G. M. Gibson, M. J. Padgett, and E. Hendry, Sci. Adv. 2, e1600190 (2016).
- R. I. Stantchev, D. B. Phillips, P. Hobson, S.M. Hornett, M. J. Padgett, and E. Hendry, Optica 4, 989 (2017).
- S.-C. Chen, L.-H. Du, K. Meng, J. Li, Z.-H. Zhai, Q.-W. Shi, Z.-R. Li, and L.-G. Zhu, Opt. Lett. 44, 21 (2019).
- A. Novitsky and L. Barkovsky, Phys. Rev. A 77, 033849 (2008).
- A. Novitsky, C.-W. Qiu, and H. Wang, Phys. Rev. Lett. 107, 203601 (2011).
Supplementary files
