Informaçao sobre o Autor
Исаев, А. Г.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 52, Nº 2 (2023) | INSTRUMENTATION | Oxide Memristors for ReRAM: Approaches, Characteristics, and Structures | |
| Volume 54, Nº 3 (2025) | DIAGNOSTICS | Structure of thin titanium nitride films deposited by magnetron sputtering |