Автор туралы ақпарат
Tikhonov, M. I.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| Том 69, № 2 (2024) | PHYSICAL PROCESSES IN ELECTRONIC DEVICES | Application of tracing tools for analysis of microcontroller failures arising under the 14 MeV neutrons exposure |
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| Том 69, № 2 (2024) | PHYSICAL PROCESSES IN ELECTRONIC DEVICES | Application of tracing tools for analysis of microcontroller failures arising under the 14 MeV neutrons exposure |